三次元AOI量測儀

型號 : AL-3AT2

優勢與特色

→ 3次元量測技術，數分鐘內，快速取得工件表面3D數據，大幅提升企業的量測作業效率。

→ 非接觸式量測，不破壞產品，就可不須增加成本負擔。

→ 搭載高精度光學尺位移平台，可應用於大範圍的物體量測。

→ 量測資料數據化，提供客戶更完整的資料庫蒐集。

RD首件作品、初期品檢查 / 製程中PQC、抽樣檢查 / 出貨OQC檢查 / 驗收IQC檢查

▍結構光

使用雙三角式量測原理，利用面型結構LED光源投射到待測物表面，會反射面型結構LED光源在待側物表面的輪廓影像給雙高解析度的陣列CMOS接收並經過光學核心演算法，計算出XYZ軸的3D表面輪廓點資訊。

▍線雷射

使用三角式量測原理，利用線雷射光源投射到待測物表面，會反射線雷射在待側物表面的輪廓影像給高解析度的陣列CMOS接收並經過光學核心演算法，計算出XZ軸的輪廓（2.5D）點資訊。