AL-6AT系列
優勢與特色
BUENO OPTICS 檢測軟體
自動光學檢測模組自由配,滿足市場不同需求
選擇需求功能對應瑕疵類型與檢測目標,快速啟動智慧檢測流程
BUENO 自主開發的 AI 智慧檢測軟體具備完整的視覺化操作流程,僅需三步驟即可完成模型建立,有效降低維運與重訓成本。適用於多樣化製程與頻繁變更品項的製造現場。
模組一:AI智慧軟體模組
ai影像導入

透過高解析度線掃或面陣鏡頭取得待檢影像,批次導入標準樣本與缺陷樣本可快速導入影像資料,建立原始數據庫,為AI訓練提供穩定基礎
ai影像訓練

系統支援多類別標籤(如Particle、Scratch、Hole等)訓練模型將自動學習樣本特徵,提升日後辨識準確率
ai影像檢測

系統可於生產檢測階段即時運行推論判別,將瑕疵區域自動標示與分類,並輸出統計報表或警示。
彈性選配光源、鏡頭與相機,精準掌握影像品質
選配的光源、相機與鏡頭組合,打造高相容性的視覺辨識平台,精準支援各類產品與製程需求。
模組二:光學組件模組
光源選擇


同軸光、背光、環形光、結構光等,,可針對高反光、透明或具形變特性的物件進行最佳化照明處理
相機選擇

500萬~2500萬像素,多款工業級感測器,並支援線掃與面陣型架構,滿足高解析與高速取像需求
鏡頭

可選配多倍率放大模組,涵蓋廣視野與高倍率觀察應用,協助實現從大範圍初檢到細節瑕疵放大的完整影像檢測流程。
依工件特性搭配平台與手臂,實現高精度整合
整合多軸平台、大理石滑台、自動化手臂與晶圓載具,因應不同檢測需求,實現高精度、高穩定性自動化整合。
模組三:結構配置與自動化整合能力
大理石平台 / 多軸平台

高穩定性的大理石平台結構,具備優異的抗震性與熱穩定性,確保影像擷取過程中的高精度與低誤差。平台可搭配多軸定位模組(X/Y/Z/θ),實現複雜軌跡移動與多角度掃描
手臂 / 自動化產線需求

滿足自動化產線需求,系統亦可整合機械手臂進行樣品上下料,支援與輸送帶、Tray盤、Cassette系統的整合,建構全自動化光學檢測流程
半導體製程環境應用

整合晶圓專用載具(FOUP / FOSB)與晶圓自動上下料模組(Wafer Loader / Unloader),打造無人化、高潔淨度的晶圓光學檢測流程
BUENO OPTICS 瑕疵檢測軟體
軟體實例

MICRO LED瑕疵檢測系統

晶圓尺寸瑕疵AI檢測系統

MICRO LED瑕疵檢測系統

產品組立公差量測/瑕疵檢測系統
AI自動光學瑕疵檢測設備
設備實績

智能光學銑刀檢測系統
