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設備簡介
通過逐行掃描方式獲取圖像。 適合於高速、高解析度的檢測,減少圖像拼接次數,甚至無需拼接,適用於大面積檢測。
高倍率光學模組結合紅外線自動對焦技術,有效提升對焦穩定性與精度,確保在微小缺陷檢測下的影像清晰度與重現性。
支援透明基材之缺陷識別的能力,適用於先進封裝中各類異質材料之品質控管。
具AI深度學習進行缺陷分類與判別訓練,並支援影像相減技術整合進行變異檢出,提升系統於微小差異及複雜背景下之檢測靈敏度與準確性。
高倍率光學模組結合紅外線自動對焦及AI技術,適用於各類型的瑕疵檢測需求。